凝聚态物质中冲击诱发变形的成像

长期以来，内部X射线照相技术一直用于极端环境中，以对材料中的内部变形进行成像。 近年来，第三代同步加速器光源和自由电子激光器将动态X射线成像的能力扩展到宏观样品中的亚微米和亚纳秒尺度。这些增强的功能不仅可以更好地洞察材料变形，而且还对检测器技术提出更高的要求。

如下图实验建设；冲击速度范围为 250-850ms-1，产⽣的冲击压⼒和材料运动分别为5-20GPa和数百ms -1。 在撞击之后，通过⾼能量（50-250keV）X射线照相 和互补速度诊断检查⽬标损伤，使用高能同步辐射X射线照相术来研究高Z材料中的冲击引起的变形；这项研究的关键是普林斯顿仪器PI-MAX4：1024i增强型CCD（ICCD）相机，配备Gen III增强器，可在低光子情况下实现快速成像，PI-MAX4：1024i将传统的像增强器门控选通达到500ps,而不牺牲量子效率。